首页 科技 普通LED光源“透视”材料内部3D光学指纹

普通LED光源“透视”材料内部3D光学指纹

韩国延世大学领导的研究团队首次在世界上开发出一种名为“非相干介电张量断层成像”(iDTT)的新技术,仅利用普通LED光源,就能读取材料内部复杂的3D“光学指纹”,为材料科学、生物医学和半导体检测等领域提供了一种更稳定、更低成本的无损分析方法。相关成果发表于最新一期《自然·光子学》杂志。

一些材料具有一种被称为“光学各向异性”的固有特性,即光线沿不同方向传播时,材料的折射率会发生变化。这种性质如同材料内部结构和分子排列方式的“指纹”,是研究晶体、生物组织及复杂材料的重要依据。

此前,团队曾开发出“介电张量断层成像”(DTT)技术。所谓“介电张量”,是一个3×3矩阵,用于描述材料在不同方向上对光的响应,包括折射与吸收等特性。此次开发的iDTT,创新点在于首次利用LED作为非相干光源,实现介电张量的三维重建,从根本上降低了噪声问题,大幅提升了测量稳定性和实用性。团队通过精确控制光的偏振方向和入射角,对样品进行48次独立测量,最终重建出材料内部的3D介电张量结构。

在一项直接对比实验中,研究团队使用具有微米级周期性分子排列结构的样品进行测试。结果显示,iDTT能够清晰重建传统激光DTT因噪声过大而几乎无法识别的精细结构。

利用该技术,研究团队实现了液晶颗粒内部3D分子排列的可视化,同时还在无需额外染色的情况下,精确观察到放疗后结肠组织发生纤维化、组织变硬的现象。

iDTT有望广泛应用于材料科学、半导体、制药、生物医学和显示技术等领域,有望替代部分依赖大型设备或破坏性分析的方法,为工业检测和医学成像提供一种紧凑型、高精度的新型光学分析工具。

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